Particle Measuring Systems stellt den ersten für Ex-Bereiche zertifizierten 20-nm-Partikelzähler für die Überwachung von Lösungsmitteln vor
Neuer 20-nm-Partikelzähler ermöglicht die Inline-Überwachung kritischer Lösungsmittelchemikalien in explosionsgefährdeten Halbleiterfertigungsumgebungen NIWOT, Colorado – Particle Measuring Systems (PMS), ein weltweit führender Anbieter von Lösungen zur Kontaminationsüberwachung, gibt die Markteinführung des Chem 20™ SM bekannt, eines 20-nm-Partikelzählers für Lösungsmittel, der speziell für den Einsatz in explosionsgefährdeten Bereichen entwickelt wurde. Der Chem 20…