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ParticleSeeker™ Multiport-Aerosol-Probenehmer

Sensitivität: 10 nm

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Produktdetails

  • 10 Verteilerstationen
  • Durchflussmenge der Probe: 0,1 CFM
  • Probenahme-Intervall: Min. 1 Sekunde, Max. 3600 Sekunden
  • Abdeckung von bis zu 120 m2 Produktions-/Prozessraum
  • LED’s zeigen aktive Probenahmeschnittstelle(n) an
  • Mehrere (4) Probenahmemodi10 manifold points

» Ensemble: Abtastung aller Anschlüsse gleichzeitig
» Seeker: Zielt auf jeden Anschluss, der während des Ensemble-Betriebs identifiziert wird
» Synch: kommuniziert in Echtzeit mit dem Prozesswerkzeug, um den Fertigungsprozess (Waferpfad) durch Prozesswerkzeuge und Mini-Umgebungen zu verfolgen
» Benutzerdefiniert

  • Kleine Grundfläche: 8,2 x 5,4 x 4,7 Zoll (21x14x12 cm)
  • IP-Adresse und Standorte des Geräts verbleiben in der Basisstation und können mit minimaler Ausfallzeit (< 5 Minuten) ausgetauscht werden
  • Trockenkontakt-Relais (4 Stück)
  • 4-20mA Analogeingänge (x4) und -ausgänge (x2) für zusätzliche Sensoren (z.B. Temp., RH, DAP)
  • USB-Anschluss
  • Ethernet-Anschlüsse (2): Ethernet-Protokoll und MODBUS über TCP/IP
  • Ermöglicht eine Probenabdeckung von 120 m2 im Produktions-/Prozessbereich
  • Einziger Aerosolpartikelverteiler auf dem Markt, der speziell für die Verwendung mit Proben-Nanopartikeln (<100nm) entwickelt wurde.
  • Eliminiert Übersprechen und andere übliche Probleme bei der Handhabung von Nanopartikeln
  • Fähigkeit zur Überwachung mehrerer Probenorte in einer sequentiellen oder programmierten Abfolge
  • Mehrere Eingangs-/Ausgangskommunikationsschnittstellen ermöglichen einen nahtlosen SCADA-Datentransfer, der die Ausfallzeiten der Prozesswerkzeuge reduziert
  • DC-Stromversorgungsanschlüsse (x2) ermöglichen die gemeinsame Nutzung der Stromversorgung des ParticleSeeker mit einem NanoAir

ParticleSeeker + NanoAir (Aerosol-Partikelzähler):

  • Überwachung innerhalb von Prozesswerkzeugen Equipment Front End Module (EFEM) Miniumgebungen
  • Ideal für Anwendungen, die eine programmierte Probenpunktüberwachung erfordern, die dem Weg des Wafers oder einer anderen kritischen Oberfläche folgt
  • Umfassende Kontaminationsüberwachung bei Verwendung mehrerer Verteileranschlüsse

 

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